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情報処理技術者試験

【共催】第6回 オープンシステム・ディペンダビリティ ワークショップ (6thWOSD)

開催情報

 信頼性の高いシステムを構築するための技術に関わる技術者、研究者を対象とした「6th Workshop on Open Systems Dependability (6thWOSD)」を、ディペンダビリティ技術の研究開発を促進している一般社団法人ディペンダビリティ技術推進協会(DEOS協会)(※1) 、慶應義塾大学と共催します。
 オープンシステム・ディペンダビリティ ワークショップ(WOSD)は、オープンシステム・ディペンダビリティについての議論を提供し、この分野のさらなる研究を促進するためのワークショップです。第6回のWOSDでは、システム・アシュランス、リスク管理、アセット管理などの、オープンシステム・ディペンダビリティ関連分野の標準化活動についての講演と議論を行います。
 第5回までのWOSDは、IEEE DSN (International Conference of Dependable Systems and Networks)のサテライトワークショップとして(2011, 2012年)、また、IEEE ISSRE (International Symposium on Software Reliability Engineering)のサテライトワークショップとして(2013-2015年)開催されてきました。

 (※1)一般社団法人ディペンダビリティ技術推進協会(DEOS協会):我が国のディペンダビリティ技術の研究、開発、実証、評価、普及、標準化などを推進し、より安心、安全、快適な社会の実現に資することを目的に2014年設立

名称 第6回 オープンシステム・ディペンダビリティ ワークショップ (6thWOSD)
(公式サイト 日本語別ウィンドウで開く 英語別ウィンドウで開く
主催(共催) 独立行政法人情報処理推進機構 (IPA)
一般社団法人ディペンダビリティ技術推進協会 (DEOS協会)
慶応義塾大学大学院SDM
開催日時 2017年10月21日(土)9:00〜18:00
開催場所 〒108-8345
東京都港区三田 2-15-45 慶應義塾大学 東館 6・7階 G-Lab (アクセスマップ
定員 120名
参加費 無料
募集対象 信頼性の高いシステムを構築するための技術に関わる技術者、研究者

プログラム

 講演はすべて英語で行われます。講演の概要を記した予稿集を、当日参加者に配布いたします。

時刻 概要
8:30 受付
9:00〜
9:10
開会挨拶

DEOS協会 理事長 所 眞理雄 氏
9:10〜
9:20
オリエンテーション
9:20〜
9:50
基調講演
Open Systems Dependability and DEOS: Concept, Retrospect and Prospects


オープンシステム科学研究所 所 眞理雄 氏
9:50〜
10:20
休憩
10:20〜
11:50
ISO 31010 Risk assessment techniques and open systems
Jean Cross(University of New South Wales)

Asset Management, Open Systems and the Role of Governance
James Kennedy(Asset Management Council)

Impact of open systems dependability on IoT and SoS
IPA/SEC 所長 松本 隆明
11:50〜
13:30
昼休憩
13:30〜
15:00
Assurance of open systems dependability: developing a framework for automotive security and safety
Robin Bloomfield(City, University of London / Adelard LLP)

Automated Integration of Potentially Hazardous Open Systems
John Rushby(Stanford Research Institute)

Increasing Difficulty of System Development 〜How can we cope with it?〜
慶應義塾大学大学院システムデザイン・マネジメント研究科 白坂 成功
15:00〜
15:30
休憩
15:30〜
17:00
Short History of IEC TC56 from 1965 to 2017 (to be read by Hardeveld)
Valter Loll(Loll Consult)

Developments in Dependability Standardization
Tom Van Hardeveld(Chairperson, IEC TC 56 Dependability)

An overview of IEC 62853 Open systems dependability(CDV)
神奈川大学 理学部 情報科学科 教授 木下 佳樹 氏
17:00〜
17:15
休憩
17:15〜
17:45
Presentation of DEOS consortium activities

自動車応用部会 松原 豊 氏(名古屋大学 助教)
標準化部会 武山 誠 氏(神奈川大学 プロジェクト研究員・非常勤講師)
17:45〜
18:00
閉会挨拶

IPA 理事長 富田 達夫

参加申込み

締め切り日時:2017年10月20日(金)  17時00分



お申込みは締め切りました。

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